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ELEMENT GD PLUS辉光质谱仪

详细摘要： Thermo Scientific ELEMENT GD结合了辉光放电离子源和双聚焦高分辨率质量分析器，可以定性定量分析固体样品中包括C、N、O在内的几乎所有元...
产品型号：所在地：更新时间：2024-08-13 在线留言
LECO GDS900辉光质谱仪

详细摘要：辉光放电光谱检测方法利用低压，通过氩离子束对样品表面均匀溅射物质的非热能处理技术。溅射出的物质离开样品表面随后被原子化并在低压等离子放电区域被激发。LECO G...
产品型号：所在地：更新时间：2024-08-13 在线留言
JXA-8230 电子探针显微分析仪

详细摘要：日本电子新开发出的EPMA （电子探针）秉承近半个世纪的EPMA的发展历史，JXA-8230具备用户友好的操作、通过新式简单易用的PC 用户界面提供完整范围的高...
产品型号：所在地：更新时间：2024-05-28 在线留言
日本电子 JXA-8530F 电子探针显微镜分析仪

详细摘要：日本电子 JXA-8530F 电子探针显微镜分析仪可以安装通用性强、使用方便的能谱仪X射线探测器，组合使用WDS和EDS，能提供无缝、舒适的分析环境。日本电子...
产品型号：所在地：更新时间：2024-05-23 在线留言
日本电子 JXA-8230 电子探针显微镜分析仪

详细摘要：日本电子 JXA-8230 电子探针显微镜分析仪可以安装通用性强、使用方便的能谱仪X射线探测器，组合使用WDS和EDS，能提供无缝、舒适的分析环境。日本电子新开...
产品型号：所在地：更新时间：2024-05-23 在线留言
PHI 700Xi 俄歇电子能谱仪扫描俄歇纳米探针

详细摘要： PHI 700Xi 俄歇电子能谱仪扫描俄歇纳米探针提供高性能的俄歇（AES）频谱分析，俄歇成像和溅射深度分析的复合材料包括：纳米材料，催化剂，金属和电子设备。维...
产品型号：所在地：更新时间：2024-05-15 在线留言
PHI nanoTOF II 飞行时间二次离子质谱仪

详细摘要： PHI nanoTOF II 飞行时间二次离子质谱仪是一种表面敏感的技术，提供表面分子，元素及其同位素前几个原子层的组成图像。所有元素和同位素，包括氢气都可以用...
产品型号：所在地：更新时间：2023-04-02 在线留言